EAST團(tuán)隊(duì)在EAST高電子溫度(芯部電子溫度8keV)H-mode運(yùn)行中,利用GEM相機(jī)在國際聚變領(lǐng)域首次測(cè)得軟X射線波段能譜在二維空間(R-Z)上的分布。為研究EAST芯部重雜質(zhì)種類、分布以及R-Z空間上的大尺度輸運(yùn)等物理過程奠定了實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。
托卡馬克及聚變堆高參數(shù)運(yùn)行下固有重雜質(zhì)聚芯對(duì)裝置安全運(yùn)行及聚變功率產(chǎn)額有重要影響,然而,潛在的機(jī)理并不清楚。近幾年,國際主要大裝置都在搭建二維GEM(Gas Electron Multiplier)相機(jī),在二維空間上開展相關(guān)實(shí)驗(yàn)研究。自2017年開始,ASIPP和ENEA合作共同研究GEM在EAST上的應(yīng)用,2018年在EAST首次獲得二維通量分布,2019年4月2日首次同時(shí)獲得二維通量和能譜分布。
GEM相機(jī)通量分布(左),R向能譜分布(中),Z向能譜分布(右)