多功能反射譜儀(MR)采用時(shí)間分辨方法在探測(cè)器上記錄反射中子,從而得到中子反射率R隨動(dòng)量轉(zhuǎn)移矢量Qz的變化關(guān)系,通過分析中子反射率曲線就能夠得到薄膜的厚度、界面粗糙度、以及散射長(zhǎng)度密度的分布。當(dāng)采用極化中子測(cè)量模式時(shí),可以得到磁性沿垂直膜面方向的分布,同時(shí)還可以進(jìn)行溫度、磁場(chǎng)、電場(chǎng)等原位條件下表面及界面磁性的表征。