反角白光中子實(shí)驗(yàn)裝置(Back-n)是依托中國(guó)散裂中子源(CSNS)建設(shè)的實(shí)驗(yàn)裝置,具有能量范圍寬、中子能量高、能量分辨好等特點(diǎn),綜合性能優(yōu)異,適合開(kāi)展中子物理學(xué)特別是中子核數(shù)據(jù)測(cè)量研究、探測(cè)器標(biāo)定、中子束輻照效應(yīng)以及中子照相等研究和應(yīng)用。Back-n有兩個(gè)實(shí)驗(yàn)廳,可以提供不同飛行距離(約56m和78m)和不同束斑尺寸的中子束流。目前已配備C6D6中子俘獲截面測(cè)量譜儀、FIXM裂變截面測(cè)量譜儀、NTOX全截面測(cè)量譜儀、LPDA帶電粒子出射測(cè)量譜儀、MTPC多用途時(shí)間投影室和GTAF中子俘獲反應(yīng)截面測(cè)量譜儀等多臺(tái)核數(shù)據(jù)測(cè)量譜儀,其他新的譜儀也在研制中。
